技术指标:检出极限<10ppb 备注: 本设备可进行多种测试,测试种类和费用如下: 1)硅片表面金属杂质含量的测试The surface of a silicon wafer metal impurity content test,费用:865.4RMB; 2)硅材料中体金属杂质含量的测试The content of bulk metal impurities in silicon test,费用:865.4RMB; 3)酸液中金属杂质含量的测试Metal impurities in the acid solution in the test,费用648.6RMB;
仪器用途:测试
收费标准:865.4
机组负责人:顾晓庆 13775080021 xiaoqing.gu@trinasolar.com