技术指标
最高放大倍数:TEM 100万倍; STEM 230万倍点分辨率:0.20 nm线分辨率:0.102nm STEM HAADF分辨率:0.17 nm最高加速电压: 300KV。
仪器用途
生物、医学、材料学、半导体材料、金属、陶瓷等物质的超微结构观察和分析。
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