广州微平科技服务有限公司

预约须知

1. 样品状态：可为粉末、块体、薄膜样品；

2. 粉末样品：颗粒一般不超过5微米，提供20mg，尺寸过大请提前咨询客户经理；

3. 粉末/液体样品请务必备注好制样条件，包括分散液，超声时间及配制浓度；

4. 薄膜或块状样品尺寸要求：长宽0.5-3cm之间，厚度0.1-1cm之间，表面粗糙度不超过5um，一定要标明测试面！

5. 测试压电、表面电势的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小最小不小于1*1cm。其他问题请咨询客户经理。

 

原子力显微镜AFM

型号：Bruker Dimension Edge；Bruker Dimension ICON等

 

测试项目：

a. 粉末，溶液，块状样品的表面形貌，厚度，粗糙度测试

b. 生物/纤维样品的表面形貌

c. 相图

d.  PFM（压电力显微镜）, EFM（电场力显微镜）, KPFM（表面电势，Kelvin探针）, MFM（磁力显微镜）, CAFM（导电原子力显微镜），QNM（弹性模量），力曲线等特殊模式。

更多测试要求请咨询客户经理;

 

样品要求：

1. 样品状态：可为粉末、块体、薄膜样品；

2. 粉末样品：颗粒一般不超过5微米，提供20mg，若尺寸过大请提前咨询客户经理；

3. 粉末/液体样品请备注好制样条件，包括分散液，超声时间及配制浓度；

4. 薄膜或块状样品尺寸要求：长宽0.5-3cm之间，厚度0.1-1cm之间，表面粗糙度不超过5um，一定要标明测试面！若尺寸过大请提前咨询客户经理

5. 测试压电、表面电势的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小最小不小于1*1cm。其他问题请咨询客户经理。

 

常见问题及回答：

为什么AFM测试样品颗粒或者表面粗糙度不能过大？

因为尺寸过大，会碰到仪器探针针尖，针尖易磨钝以及受污染，且磨损无法修复，污染则清洗困难 。

 

AFM拍摄不到自己想要的效果，表面形貌或粗糙度与自己预期不符合？

AFM拍摄也需要不断寻找合适的位置拍摄，同一样品不同拍摄部位表面形貌和粗糙度极有可能不一致，因为原子力显微镜成像范围较小，与拍摄样品表面是否均匀息息相关；

 

结果展示：

测试原始文件格式FLT格式或MDT格式可分别用Nanoscope analysis 和Nova 1138软件打开。

 

服务简介

原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质，在物理领域应用广泛。

基于原子力显微镜的单细胞力谱技术的诞生，改变了生命科学以生物化学为基础的传统研究模式，开辟了以力学表征为基础的全新研究视角，是生命科学研究方法的重要突破。目前该技术已经被大量用于医学和生命科学领域的研究中。

本仪器结合了传统光学显微镜，激光扫描显微镜以及探针显微镜功能的一体机。

 

服务参数

120nm水平分辨率，1nm垂直显示分辨率，10nm垂直扫描分辨率。

 

检测项目

测试项目：2D、3D、粗糙度、高度、沟痕深度。

 

样品要求

样品无磁性，块体，薄膜，粉末均可，粉末样品请务必写清楚分散剂以及超声时间，块状样品不超过2cm*2cm。

 

常见问题及解答

为什么AFM测试粗糙度不能太大？

因为AFM测试是扫描探针接触式测试，样品表面粗糙度太大，会磨损探针。