主要技术指标:高真空分辨率3.0nm in SEI, 4.0nm in BEI低真空分辨率4.0nm in BEI;EDX能谱仪谱峰分辨率<132.0 ev
主要附件及功能:可在高、低真空模式下进行扫描电镜显微镜分析,配置的EDX能谱分析仪可对样品进行微区元素定量、定性分析及线扫描、面扫描分析。
主要应用领域:材料,地质矿产
检测项目:金属材料检测
仪器联系人:柴立元
联系人电话:0731-88836921
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