检测认证人脉交流通讯录
FE-SEM测试_FE-SEM检测_场发射扫描电镜_服务
这真不是您需要的服务？
- 原理 依据电子与物质的相互作用。样品表面加一个强电场，样品表面势垒降低，由于隧道效应，样品金属内部的电子穿过势垒从金属表面发射出来，这种现象称场发射。亮度高约比普通SEM高100倍，分辨率可达10nm. 仪器技术参数 二次电子分辨率: 1.4nm (1 kV，减速模式) 放大倍率: x 20~ x 800,000 电子枪: 冷场发射电子源 送样要求 粉状样品1-5g之间，能把3-5mm直接样品填满即可。块状样品不能大于5mm宽，高度小于5mm. 应用领域 1.金属、非金属及复合材料的观察分析； 2.纳米粉及纳米粉体的形貌观察和粒度测量统计； 3.微区成分的定性、定量计算，并对重点区域做元素分布图； 4.可对固体材料的表面涂层、镀层进行结合情况观察和厚度测量； 5.机械设备、压力容器、管道及汽车零件的失效分析。 适用标准 GB/T 16594-2008微米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法 专业、高效、精准、高性价比是剂拓公司的服务宗旨。
